Tesis doctoral de Rodriguez Martin José M.
En este trabajo se realiza el estudio de las propiedades opticas de dos conjuntos de semiconductores iii-v: aleaciones y superredes. Para ello las tecnicas utilizadas son aquellas sensibles a los diferentes procesos de absorcion o transiciones opticas directas en el espacio de momentos, estas tecnicas fueron la elipsometria espectral y un conjunto de espectroscopias de modulacion: piezorreflectancia, electrorreflectancia y fotorreflectancia. el estudio realizado en las aleaciones esta enfocado en la variacion con la composicion de al de las transiciones eo y es en dos tipos de aleaciones: arinas y algap. por otra parte se efectua un estudio similar, en varios conjuntos de superredes semiconductoras. las superredes estudiadas abarcan desde superredes gaas/alas con practicamente nulo desajuste en su parametro de red. hasta las superredes inas/alas de capas altamente tensionadas debido al fuerte desajuste de red entre sus constituyentes, pasando por el caso intermedio de las superredes gaas/gap. Los datos experimentales relativos a la transicion e1 se explican teniendo en cuenta la importancia relativa de efectos de confinamiento y efectos de las tensiones. Por ultimo, en superredes inas/apas se establece el valor del band-offset en este tipo de heterouniones.
Datos académicos de la tesis doctoral ««elipsometria espectral y espectroscopias de modulacion en aleaciones y superredes semiconductoras».«
- Título de la tesis: «elipsometria espectral y espectroscopias de modulacion en aleaciones y superredes semiconductoras».
- Autor: Rodriguez Martin José M.
- Universidad: Complutense de Madrid
- Fecha de lectura de la tesis: 01/01/1991
Dirección y tribunal
- Director de la tesis
- Gaspar Armelles Reig
- Tribunal
- Presidente del tribunal: Luis Vicent Jose
- Escudero Soto José Luis (vocal)
- Carmen Nieves Alfonso (vocal)
- (vocal)