Analisis teorico del efecto fotorrefractivo en el regimen no lineal.

Tesis doctoral de Eduardo Serrano Jerez

En esta tesis se ha realizado un estudio pormenorizado de la variacion no local del indice de refraccion medio que se produce en los materiales fotorrefractivos en el regimen no lineal. Para ello se han desarrollado tanto procedimientos numericos como estrategias analiticas no perturbativas que permiten simular la respuesta de dichos materiales (nivel de saturacion y evolucion cinetica) en funcion de los diferentes parametros materiales y experimentales involucrados (estado de oxidacion/reduccion de la muestra, profundidad de la modulacion, periodicidad de imagen sobreimpresionada…Etc). se han puesto de manifiesto nuevos efectos ignorados en las aproximaciones habituales, como es la generacion de subarmonicos que duplican la periodicidad de las soluciones.

 

Datos académicos de la tesis doctoral «Analisis teorico del efecto fotorrefractivo en el regimen no lineal.«

  • Título de la tesis:  Analisis teorico del efecto fotorrefractivo en el regimen no lineal.
  • Autor:  Eduardo Serrano Jerez
  • Universidad:  Autónoma de Madrid
  • Fecha de lectura de la tesis:  01/01/1994

 

Dirección y tribunal

  • Director de la tesis
    • Fernando Agullo Lopez
  • Tribunal
    • Presidente del tribunal: Manuel Cabrera Jose
    • Carlos Zaldo (vocal)
    • Carlos Gomez Reino (vocal)
    • Martinez Duart José Manuel (vocal)

 

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