Tesis doctoral de Shrikanth Ganapathy
En esta tesis, se ha investigado el impacto de las variaciones paramétricas en el comportamiento de una estructura de procesador rendimiento crítico – recuerdos incrustados. Como variaciones se manifiestan como una distribución del consumo y el rendimiento, como primer paso , se propone una nueva metodología de modelado que ayuda a evaluar el impacto de las optimizaciones a nivel de circuito en las opciones de diseño a nivel de arquitectura. Después complementamos estas optimizaciones en tiempo de diseño con un mecanismo en tiempo de ejecución basado en body-biasing. Nuestra propuesta utiliza una novedosa variante totalmente digital de seguimiento de hardware mediante incrustado dram células (edram) para monitorear los cambios en tiempo de ejecución de la latencia de la memoria caché. Un generador de biasing utiliza estas mediciones para generar el voltaje de polarización óptimo para cumplir con los objetivos de rendimiento requeridos. además de lo anterior, esta tesis propone una nueva celda de memoria edram que tolera mejor las variaciones y los impactos de particulas. Esta celda es una alternativa a los diseños actuales basados ??En sram. En el dominio de ultra bajo consumo de energía cuando la operación segura está limitada por la tensión mínima de funcionamiento (vddmin), se analiza el impacto de las fallas en los márgenes funcionales. Con este fin, hemos desarrollado una herramienta totalmente automatizada (informer) capaz de calcular mediciones de toda la memoria, como la energía , el rendimiento y yield con precisión y rapidez. Usando la herramienta desarrollada, evaluamos la efectividad de una nueva clase de técnicas híbridas en la mejora de yield de la memoria caché mediante la prevención y corrección de fallas. Tener una perspectiva holística de las métricas de rendimiento de toda la memoria nos ayuda a llegar a diseños optimizados necesarios para el correcto funcionamiento durante toda la vida útil de la memoria.
Datos académicos de la tesis doctoral «Reliability in the face of variability in nanometer embedded memories«
- Título de la tesis: Reliability in the face of variability in nanometer embedded memories
- Autor: Shrikanth Ganapathy
- Universidad: Politécnica de catalunya
- Fecha de lectura de la tesis: 28/04/2014
Dirección y tribunal
- Director de la tesis
- Ramón Canal Corretger
- Tribunal
- Presidente del tribunal: francesc Moll echeto
- serkan Ozdemir (vocal)
- (vocal)
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