Tesis doctoral de Serrano Esteve Francisco Javier
Se han empleado dos metodos de analisis microestructural por difraccion de rayos x (metodos de warren y averbach y de la funcion de voigt) para estudiar un conjunto de muestras de mullitas sinteticas y naturales. Se han escogido con este fin las reflexiones de mullita 110, 120, 210, 001, 220, 111 y 121. Las mullitas sinteticas se obtuvieron a partir de la transformacion termica de caolines y cianita, y por calcinacion de mezclas caolin-alumina. Los resultados del estudio indican que existe una relacion inversa entre la cristalinidad de la caolinita inicial y la de la mullita formada por transformacion termica, de manera que las caolinitas mas cristalinas originan las mullitas menos cristalinas. Los cristalitos de mullita muestran un desarrollo preferente a lo largo de la direccion del eje c a temperaturas de obtencion inferiores a los 1300 grados c, mientras que a 1500 grados c se observa un notable desarrollo de los cristales a lo largo de otras direcciones. Estos resultados confirman un cambio entre morfologías prismaticas y tabulares asociado a la temperatura.
Datos académicos de la tesis doctoral «Analisis microestructural de mullitas por difraccion de rayos x«
- Título de la tesis: Analisis microestructural de mullitas por difraccion de rayos x
- Autor: Serrano Esteve Francisco Javier
- Universidad: Universitat de valéncia (estudi general)
- Fecha de lectura de la tesis: 01/01/1995
Dirección y tribunal
- Director de la tesis
- José María Amigo Descarrega
- Tribunal
- Presidente del tribunal: Francisco Bosch Reig
- Juan Bautista Montón Castellano (vocal)
- Daniel Louer (vocal)
- Feliciano Plana Llevat (vocal)