Tesis doctoral de Sainz Gomez José Antonio
A medida que se producen avances en el diseño de circuitos integrados las distancias entre los mismos disminuyen y los acoplamientos parasitos aumentan. En el analisis de los acoplamientos se deduce que es el acoplamiento capacitivo el que produce mayores perturbaciones. Se realiza la caracterizacion del crosstalk capacitivo y se desarrollan modelos de acoplamientos parasitos en un entorno logico. Se estudian tecnicas de generacion de vectores de test para detectar fallos de crosstalk capacitivo y se indican algunas orientaciones referentes al diseño tolerante, concretandose en el empleo de tecnicas diferenciales y en el apantallamiento de lineas de conexion.
Datos académicos de la tesis doctoral «Aportacion al analisis, deteccion y correccion de errores por perturbaciones internas en circuitos integrados«
- Título de la tesis: Aportacion al analisis, deteccion y correccion de errores por perturbaciones internas en circuitos integrados
- Autor: Sainz Gomez José Antonio
- Universidad: País vasco/euskal herriko unibertsitatea
- Fecha de lectura de la tesis: 01/01/1993
Dirección y tribunal
- Director de la tesis
- Antonio Rubio SolÁ
- Tribunal
- Presidente del tribunal: Esteban Azaceta Fernandez
- Lopez Barrio Carlos A. (vocal)
- Salvador Bracho Del Pino (vocal)
- Armando Roy Yarza (vocal)