Contribucion al estudio de la identificacion de niveles en semiconductores.

Tesis doctoral de Clemente Pol Fernandez

Se realiza el montaje de un metodo de deteccion de trampas en uniones semiconductoras: el dlts (deep lavel transient spectroscopy) de doble deteccion sincrona en cuadratura (dlts con doble lock-in). Se aplica este metodo al estudio de la degradacion de celulas solares espaciales por radiacion de particulas cargadas civergeticas (electrones). Se estudia la influencia de la iluminacion durante la radiacion. Se hace un extenso estudio sobre los resultados encontrados hasta la fecha en este campo y se sacan conclusiones sobre lo que queda por conocer e investigar para mejorar el comportamiento de las celulas solares de silicio y arseniuro de galio de aplicacion espacial

 

Datos académicos de la tesis doctoral «Contribucion al estudio de la identificacion de niveles en semiconductores.«

  • Título de la tesis:  Contribucion al estudio de la identificacion de niveles en semiconductores.
  • Autor:  Clemente Pol Fernandez
  • Universidad:  Politécnica de catalunya
  • Fecha de lectura de la tesis:  01/01/1983

 

Dirección y tribunal

  • Director de la tesis
    • Luis Castañer Muñoz
  • Tribunal
    • Presidente del tribunal: Luis Castañer Muñoz
    • Tura I Soteras Josep María (vocal)
    • Francisco Serra Mestres (vocal)
    • Joan Ramon Morante Lleonart (vocal)

 

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