Contribucion al estudio de defectos en capas epitaxiales de gan. aplicaciones a dispositivos optoelectronicos.

Tesis doctoral de Fernando Jose Sanchez Sanz

Esta tesis doctoral se ha dedicado al estudio y caracterización de capas epitaxiales de gan. Este material es un semiconductor de gap ancho (3,4 ev) que ha despertado un gran interés gracias a sus propiedades que posibilitan su aplicación inmediata a la fabricación de emisores en el azul y uv, detectores de uv y transistores de potencia. Se han estudiado capas crecidas sobre sustratos de zafiro y silicio (111) por dos técnicas diferentes, mbe y movpe. las técnicas empleadas han sido fotoluminiscencia, efecto hall y fotocapacidad. Mediante ellas se han caracterizado defectos en material no dopado y ha sido posible la determinación de la energía de activación de varios dopantes como el si (donante), el mg y el be (aceptores). Finalmente se ha realizado un estudio de la influencia de estos defectos y dopantes sobre las prestaciones de dos dispositivos, un detector de uv fotoconductor y un emisor de radiación azul (diodo electroluminiscente).

 

Datos académicos de la tesis doctoral «Contribucion al estudio de defectos en capas epitaxiales de gan. aplicaciones a dispositivos optoelectronicos.«

  • Título de la tesis:  Contribucion al estudio de defectos en capas epitaxiales de gan. aplicaciones a dispositivos optoelectronicos.
  • Autor:  Fernando Jose Sanchez Sanz
  • Universidad:  Politécnica de Madrid
  • Fecha de lectura de la tesis:  01/01/1999

 

Dirección y tribunal

  • Director de la tesis
    • Enrique Calleja Pardo
  • Tribunal
    • Presidente del tribunal: elias Muñoz merino
    • martin Spaeth johann (vocal)
    • Francisco Javier Piqueras de noriega (vocal)
    • (vocal)

 

Deja un comentario

Tu dirección de correo electrónico no será publicada. Los campos obligatorios están marcados con *

Scroll al inicio