Tesis doctoral de Ben El Mekki María
En resumen, se han estudiado y caracterizado varias capas delgadas de sic y bn por espectroscopia infrarroja que es una técnica no destructiva, potente, sencilla y que nos permite obtener información sobre los efectos intrínsecos y extrínsecos del material. por lo que se refiere al sic, se han estudiado capas estequiometricas depositadas por mbe a partir de fuente sólida o gaseosa y capas depositadas por cvd a baja presión utilizando el precursor organometálico (si(ch3)4) y se ha establecido una correlación entre las características de las capas y las condiciones de depósito. Se ha mostrado también a partir de los espectros de rir, la posibilidad de depositar este material con buena calidad cristalina a temperaturas más bajas lo que abarata su coste. También se han estudiado capas de sic no estequiometricas de sic y se ha determinado la relación entre la composición x en las capas y el índice de refracción de estas mismas. finalmente nos hemos extendido al estudio de capas de h-bn y hemos determinado la orientación del eje principal c realizando medidas con luz polarizada. También se ha explicado el fenómeno de inversión de los modos lo y to tanto en el caso de h-bn/si como en el caso de h-bn/nicr y se ha asociado al ángulo de brewster.
Datos académicos de la tesis doctoral «Contribucion al estudio por espectroscopia infrarroja de capas delgadas de sic y bn.«
- Título de la tesis: Contribucion al estudio por espectroscopia infrarroja de capas delgadas de sic y bn.
- Autor: Ben El Mekki María
- Universidad: Autónoma de barcelona
- Fecha de lectura de la tesis: 01/01/1998
Dirección y tribunal
- Director de la tesis
- Jordi Pascual
- Tribunal
- Presidente del tribunal: Teresa Mora M.
- Joan Esteve (vocal)
- José Millan (vocal)
- Josep Calderer (vocal)