Desenvolupament d¿un microscopi optic de camp proper (snom) per a la caracteritzacio de componentes optoelectronics integrats.

Tesis doctoral de Xavier Borrie Nogue

En esta tesis se ha desarrollado un microscopio optico de campo cercano que permite una resolucion superior al limite classico difraccion. Simultaneamente este microscopio proporciona informacion topografica similar a la obtenida mediante un microscopio de fuerzas atomicas, que permite ser comparada con la informacion optica obtenida. el microscopio snom construido se ha desarrollado especialmente para estudiar componentes opticos integrados, tales y como los basados en guias de onda(interferometros, acobladores,…). Mediante la captacion de las ondas evanescentes de dispositivos opticos integrados se ha obtenido informacion acerca de la propagacion modal de la luz en estos dispositivos, siendo esta la unica tecnica que permite realizar dichas medidas, asi como medidas de la longitud de decaimiento del campo evanescente vertical y lateral, la longitud de acoblamiento en un dispositivo acoblador direccional o el indice de refraccion efectivo de propagacion. Ademas el sistema se ha diseñado para que fuera compatible con un banco optico estandar de medidas. los dispositivos estudiados se basan es estructuras compatibles cmos, tales y cmo las estructuras de nitruro de silicio y la estructura arrow. Un ultimo apartado de la tesis esta dedicado a la modificacion de guias para obtener nuevos dispositivos a escala nanometrica. En primer lugar se describe una tecnica de modificacion laser combinada con ataque quimico, que permite obtener estructuras modificadas de unos micrometros, la segunda tecnica es una combinacion de litrografia afm y ataque rie, que permite realizar modificaciones con mayor resolucion, en ambos casos las estructuras resultantes se han caracterizado con el microscopio snom, obteniendo, por ejemplo, conversion de modos te-tm en uno de los dispositivos modificados, o division de haz en una guia recta.

 

Datos académicos de la tesis doctoral «Desenvolupament d¿un microscopi optic de camp proper (snom) per a la caracteritzacio de componentes optoelectronics integrats.«

  • Título de la tesis:  Desenvolupament d¿un microscopi optic de camp proper (snom) per a la caracteritzacio de componentes optoelectronics integrats.
  • Autor:  Xavier Borrie Nogue
  • Universidad:  Autónoma de barcelona
  • Fecha de lectura de la tesis:  17/11/2000

 

Dirección y tribunal

  • Director de la tesis
    • Nuria Barniol Beumala
  • Tribunal
    • Presidente del tribunal: albert Cornet i calveras
    • arturo Baro marine (vocal)
    • niek f. Van hulst (vocal)
    • (vocal)

 

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