Estudio del ruido de baja frecuencia en transistores de efecto campo.

Tesis doctoral de Andres Godoy Medina

Este trabajo se centra en el ruido de baja frecuencia presente en los transistores de efecto campo. Para los jfets se analizan las uniones puerta-canal polarizadas en inverso, resolviendo en ellas de modo numérico la ecuación de poisson. Los resultados nos permiten calcular la densidad espectral de ruido originada por diferentes centros investigando la influencia de su posición energética y de los diferentes perfiles de impurezas poco profundas. Son considerados dispositivos construidos con diferentes materiales semiconductores, tales como si o sic. en los mosfets se estudia el llenado y vaciado de los estados ligados próximos a la interfase si/sio2, su influencia en la corriente del dispositivo debido a la variación del número de portadores libres y a la variación de la movilidad provocada por el incremento de la dispersión culombiana. Además se analizan las dependencias de los tiempos de captura y emisión de los electrones con la temperatura y la tensión de puerta aplicada. Para todas estas estructuras se investigan las consecuencias de su posible exposición a radicación.

 

Datos académicos de la tesis doctoral «Estudio del ruido de baja frecuencia en transistores de efecto campo.«

  • Título de la tesis:  Estudio del ruido de baja frecuencia en transistores de efecto campo.
  • Autor:  Andres Godoy Medina
  • Universidad:  Granada
  • Fecha de lectura de la tesis:  01/01/1998

 

Dirección y tribunal

  • Director de la tesis
    • Jimenez Tejada Juan Antonio
  • Tribunal
    • Presidente del tribunal: Carceller Beltran Juan Enrique
    • Daniel Pardo Collantes (vocal)
    • Luis Bailon Vega (vocal)
    • Luca Varani (vocal)

 

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