Tesis doctoral de Santiago Caceres Gomez
Estudio de los principales conceptos y herramientas de test de circuitos: modelo de fallos, algoritmos generadores de lectores de test, simulación de fallos, técnicas dft y técnicas bist (pseudoexhaustivas y pseudoaleatorias). Estudio del standar ieee 1149.1 para el test de tarjetas de circuito impreso. Propuesta de un nuevo método de generación de vectores de test para circuitos vlsi. Estudio del test de memorias ram. aplicación de las distintas técnicas vistas a un módulo ejemplo.
Datos académicos de la tesis doctoral «Estudio del test de tarjetas de circuito impreso con circuitos digitales vlsi y memorias ram.«
- Título de la tesis: Estudio del test de tarjetas de circuito impreso con circuitos digitales vlsi y memorias ram.
- Autor: Santiago Caceres Gomez
- Universidad: Valladolid
- Fecha de lectura de la tesis: 01/01/1998
Dirección y tribunal
- Director de la tesis
- Ruiz Gonzalez José Miguel
- Tribunal
- Presidente del tribunal: Santiago Lorenzo Matilla
- De Miguel Gonzalez Luis Javier (vocal)
- Rodriguez Andina Juan José (vocal)
- Luis Serrano Arriezu (vocal)