Tesis doctoral de Larruquert Goicoechea Juan Ignacio
He desarrollado un equipo experimental que permite la deposicion de materiales en lamina delgada y la medida de su reflectancia en condiciones de ultra-alto vacio. En este equipo he medido la reflectancia en funcion del angulo de incidencia de laminas delgadas de aluminio. De estas medidas he obtenido el indice de refraccion de las laminas de aluminio, previa caracterizacion de su rugosidad por mfa. En este equipo se ha realizado un estudio de la influencia de la oxidacion de laminas de aluminio en su reflectancia. Por otra parte se ha realizado un estudio de la influencia del espesor de la lamina de aluminio en su rugosidad superficial y en la radiacion esparcida, obteniendose relaciones empiricas entre el espesor de la lamina y los parametros estadisticos de su rugosidad.
Datos académicos de la tesis doctoral «Medida de la reflectancia de laminas de aluminio en el ultravioleta lejano: influencia de la oxidacion y la rugosidad«
- Título de la tesis: Medida de la reflectancia de laminas de aluminio en el ultravioleta lejano: influencia de la oxidacion y la rugosidad
- Autor: Larruquert Goicoechea Juan Ignacio
- Universidad: Autónoma de Madrid
- Fecha de lectura de la tesis: 01/01/1994
Dirección y tribunal
- Director de la tesis
- Mendez Morales José Antonio
- Tribunal
- Presidente del tribunal: Eduardo Elizalde Perez-grueso
- Antonio Corrons Rodriguez (vocal)
- Sacedon Adelantado José Luis (vocal)
- José Luis Morenza Gil (vocal)