Test de circuitos digitales mediante patrones de entrada generados por metodos algebraicos.

Tesis doctoral de Pablo Perez Trabado

El test de circuitos combinacionales puede ser abordado a traves de una metodología de seleccion algoritmica de los patrones de test a aplicar. El algoritmo tesed utiliza una representacion algebraica del circuito y su comportamiento para generar ecuaciones booleanas cuya solucion son los vectores de sensibilizacion y propagacion para una falta de anclaje dada; la interseccion de estos conjuntos de vectores de test buscados. La ecuacion de propagacion tiene en cuenta, mediante la justificacion de paridades, el efecto de fan-out reconvergente en la propagacion del efecto de la falta. para la resolucion de las ecuaciones booleanas se ha desarrollado un nuevo metodo, basado en una representacion tabular de conjuntos de vectores y se demuestra que es posible dotar a esta representacion tabular de estructura de algebra de boole.

 

Datos académicos de la tesis doctoral «Test de circuitos digitales mediante patrones de entrada generados por metodos algebraicos.«

  • Título de la tesis:  Test de circuitos digitales mediante patrones de entrada generados por metodos algebraicos.
  • Autor:  Pablo Perez Trabado
  • Universidad:  Murcia
  • Fecha de lectura de la tesis:  01/01/1995

 

Dirección y tribunal

  • Director de la tesis
    • Antonio Lloris Ruiz
  • Tribunal
    • Presidente del tribunal: Fernando Martin Rubio
    • Antonio Vigueras Campuzano (vocal)
    • Emilio Lopez Zapata (vocal)
    • José Miró Nicolau (vocal)

 

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